邑流微測專注於濕製程微污染檢測及分析解決方案，研發出以獨家奈米薄膜技術和 AI 影像辨識技術相結合的 FlowVIEW Tek，能在 30 秒內精確檢測出半導體先進製程中的微小粒子，使其無所遁形。其 Flow AOI 全方位解決方案旨在解決客戶的痛點，預防濕製程中可能產生的未知問題，提供的服務包括微污染檢測與分析、液態樣品檢測與分析等。隨著半導體製程邁入 2 奈米時代，現行檢測技術已難以滿足先進製程的需求，因此，邑流微測的影像式液體檢測技術勢必引領未來的發展趨勢。